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表面分析:SIMS 二次イオン質量分析(SIMS) | 表面分析 | 分析機能と原理 | 技術情報の詳細情報

二次イオン質量分析(SIMS) | 表面分析 | 分析機能と原理 | 技術情報。ガラス上付着物のTOF-SIMS定性分析。Amazon.co.jp: 二次イオン質量分析法 第2版 (表面分析技術選書) : 公益。二次イオン質量分析法の基礎と応用に関する専門書。- タイトル: 表面分析:SIMS- 著者: D. ブリッグス, M.P. シーア- 定価: 8500円- 出版社: アグネス承風社ご覧いただきありがとうございます。透明のブックカバーを付けて使用しておりました。そのまま付けて発送予定です。20年以上前に発行された本かつ、古本にご理解のほどお願いします。中身は美品だと思います。。ガラス上付着物のTOF-SIMS定性分析。コンサル就活本。DWE ディズニー英語システム ミッキーマジックペン、アドベンチャーセット。愛玩動物看護師カリキュラム準拠教科書 全10巻セット。公文国語教材 D II 1〜200 未記入。匿名配送 中学受験・頻出用語・ポイントにしぼったまとめカード
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